Physik Instrumente （PI）線(xiàn)性平臺進(jìn)口

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品牌公司簡(jiǎn)介：
德國PI公司是運動(dòng)和定位領(lǐng)域的全球解決方案供應商。
PI不僅開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)各種定位平臺和執行器，用于線(xiàn)性，旋轉和垂直運動(dòng)或不同軸的組合。 PI因此將這些解決方案適應客戶(hù)特定的應用或提供用于運動(dòng)和定位的成品子系統。

帶有由電動(dòng)機驅動(dòng)的機械導軌的定位和運動(dòng)系統是自動(dòng)化過(guò)程中的核心組件。這正是PI miCos擁有其核心專(zhuān)業(yè)知識的地方。已經(jīng)有廣泛的精密軸，適用于個(gè)人應用和OEM客戶(hù)。 PI miCos在Eschbach將PIMag®線(xiàn)性電動(dòng)機，由PI開(kāi)發(fā)的現代電動(dòng)機（例如DC（BLDC），AC或步進(jìn)電動(dòng)機）集成到高精度，機械引導的頂級定位系統中。

行程為80、170和250毫米
增量或絕對式線(xiàn)性編碼器，多種分辨率
用于實(shí)現高負載能力的交叉滾柱導軌
無(wú)鐵芯或鐵芯線(xiàn)性電機
緊湊的橫截面：80毫米 × 25毫米
適應能力強
構造可實(shí)現需求的靈活適應。通過(guò)采用不同的行程、驅動(dòng)器和測量系統，產(chǎn)品可同樣適用于技術(shù)復雜、臨界成本應用。XY組件也可實(shí)現

交叉滾柱導軌
對于交叉滾柱導軌，滾珠導軌中的滾珠的接觸點(diǎn)被淬火滾柱的線(xiàn)接觸取代。因此，它們的剛度明顯提高，需要的預載更小，這減少了摩擦并實(shí)現了更平滑的運行。交叉滾柱導軌還具有高導向精度和高負載能力的特征。力導向滾動(dòng)體保持架防止保持架蠕變。

應用領(lǐng)域
工業(yè)和科研。半導體或醫學(xué)技術(shù)中的測量技術(shù)、光子學(xué)及精密掃描

PIMag磁力直接驅動(dòng)
三相磁性直接驅動(dòng)器在動(dòng)力傳動(dòng)系統中未使用機械零件，其可直接將驅動(dòng)力傳輸至運動(dòng)平臺，且無(wú)摩擦。驅動(dòng)器可實(shí)現高速度和高加速度。

無(wú)鐵芯電機非常適合對精度有超高要求的定位任務(wù)，因為其不會(huì )與永久性磁鐵發(fā)生不良作用。這樣即使在最低的速度下也能保持平穩的運行，同時(shí)，在高速狀態(tài)下也不會(huì )產(chǎn)生振動(dòng)。避免了控制的非線(xiàn)性行為并且每個(gè)位置都很容易控制。驅動(dòng)力可任意設定。

力和加速度需要在有限安裝空間內實(shí)現時(shí)，使用鐵芯電機。鐵芯設計使磁力最大化，確保驅動(dòng)器的高熱穩定性。

直接位置測量
以極高的精度直接在運動(dòng)平臺上進(jìn)行位置測量，因此非線(xiàn)性效應、機械作用或彈性形變不會(huì )對位置測量造成影響

Physik Instrumente （PI） 直接位置測量 傳感器 實(shí)驗用

PI (Physik Instrumente) P-542.PD1 用于P-54x納米定位系統的培養皿支架，35 毫米 P-542.SH1 用于P-54x納米定位系統的顯微鏡載片支架

PI (Physik Instrumente) P-611.2S XY向納米定位系統，100微米 × 100微米，應變片傳感器

PI (Physik Instrumente) P-611.20 XY向納米定位系統，100微米 × 100微米，不帶傳感器

PI (Physik Instrumente) P-611.XZS XZ向納米定位系統，100微米 × 100微米，應變片傳感器

PI (Physik Instrumente) P-611.XZ0 XZ向納米定位系統，100微米 × 100微米，不帶傳感器

PI (Physik Instrumente) P-612.20L XY 向納米定位系統，130微米 × 130微米，孔徑為20毫米 × 20毫米，開(kāi)環(huán)

PI (Physik Instrumente) P-612.2SL XY 向納米定位系統，100微米 × 100微米，孔徑為20毫米 × 20毫米，應變片傳感器

PI (Physik Instrumente) P-620.2CD 精密PIHera XY向納米定位系統，50微米 × 50微米，直接位置測量，電容傳感器，Sub-D連接器

PI (Physik Instrumente) P-621.2CD 精密PIHera XY向納米定位系統，100微米 × 100微米，直接位置測量，電容傳感器，Sub-D連接器

PI (Physik Instrumente) P-622.2CD 精密PIHera XY向納米定位系統，250微米 × 250微米，直接位置測量，電容傳感器，Sub-D連接器

PI (Physik Instrumente) P-625.2CD 精密PIHera XY向納米定位系統，500微米 × 500微米，直接位置測量，電容傳感器，Sub-D連接器

PI (Physik Instrumente) P-628.2CD 精密PIHera XY向納米定位系統，800微米 × 800微米，直接位置測量，電容傳感器，Sub-D連接器

PI (Physik Instrumente) P-629.2CD 精密PIHera XY向納米定位系統，1500微米 × 1500微米，直接位置測量，電容傳感器，Sub-D連接器

PI (Physik Instrumente) P-620.2CL 精密PIHera XY向納米定位系統，50微米 × 50微米，直接位置測量，電容傳感器，LEMO連接器

PI (Physik Instrumente) P-621.2CL 精密PIHera XY向納米定位系統，100微米 × 100微米，直接位置測量，電容傳感器，LEMO連接器

Physik Instrumente （PI）線(xiàn)性平臺進(jìn)口 N-565.360

  Physik Instrumente (PI)-P-613

  Physik Instrumente (PI)-P-630

  Physik Instrumente (PI)-P-712

  Physik Instrumente (PI)-P-725

  Physik Instrumente (PI)-S-330

  Physik Instrumente (PI)-S-335

  Physik Instrumente (PI)-S-340

  Physik Instrumente (PI)-U-523

  Physik Instrumente (PI)-V-408

  Physik Instrumente (PI)-V-741

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