欧美牲交黑粗硬大_德國LANGER EMV-Technik H-場(chǎng)探頭MFA-R 0,2-6-電氣儀表-產(chǎn)品型號-北京漢達森機械技術(shù)有限公司

品牌德國LANGER EMV-Technik	有效期至長(cháng)期有效	最后更新2021-06-02 11:54
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德國LANGER EMV-Technik H-場(chǎng)探頭MFA-R 0,2-6

德國LANGER EMV-Technik H-場(chǎng)探頭MFA-R 0,2-6

近場(chǎng)探頭組MFA 01包括：

H-場(chǎng)探頭MFA-R 0,2-6

H-場(chǎng)探頭MFA-R 0,2-75

H-場(chǎng)探頭MFA-K 0,1-12近場(chǎng)探頭組MFA 01包括：

H-場(chǎng)探頭MFA-R 0,2-6

H-場(chǎng)探頭MFA-R 0,2-75

H-場(chǎng)探頭MFA-K 0,1-12

偏置器BT 706

電源適配器

SMA-SMA電纜，長(cháng)度1米

盒子(340 x 240 x 55) mm

主要技術(shù)指標：

	頻率范圍	分辨率	結構	連接器
MFA-R 0,2-75	1MHz～1GHz	300 µm	雙水平環(huán)	SMA
MFA-R 0,2-6	100MHz～6GHz	300 µm	垂直環(huán)	SMA
MFA-K 0,1-12	100MHz～6GHz	200 µm	垂直環(huán)	SMA
偏置器BT 706	500kHz～6GHz			SMA

SX系列近場(chǎng)探頭簡(jiǎn)介：

SX系列近場(chǎng)探頭，用于測量電子模塊、元器件和IC引腳的高頻近場(chǎng)，頻率范圍可達10GHz。探頭內部不含預放，為無(wú)源探頭，可使用射頻電纜連接到預放或頻譜分析儀的50歐姆輸入端。

偏置器BT 706

電源適配器

SMA-SMA電纜，長(cháng)度1米

盒子(340 x 240 x 55) mm

主要技術(shù)指標：

SX系列近場(chǎng)探頭簡(jiǎn)介：

品牌概述：Langer EMV-Technik有限公司是一家活躍在電磁兼容領(lǐng)域的，集研究、發(fā)展和生產(chǎn)于一體的中型電工公司。

王立華
QQ：2850590596

手機：18518172069
電話(huà)：010-64717020-125
傳真：010-84786709-666
郵件：sales20@handelsen.cn

王立華郵箱：sales20@handelsen.cn電話(huà)：010-64717020-125

LANGER EMV-Technik公司以其電磁兼容專(zhuān)有知識和測量技術(shù)展現出在組件和集成電路開(kāi)發(fā)中的新視角和經(jīng)濟高效的工作策略。

Langer主要產(chǎn)品：Langer掃描儀、Langer掃描探頭(30MHz-3GHz)、Langer探測頭、Langer放大器、Langer測量?jì)x等儀器儀表備件，今天小編主要為大家介紹的是LANGER,德國LANGER掃描儀,LANGER近場(chǎng)探頭，閱讀完本篇文章大約需要6分鐘，感謝您的本次到訪(fǎng)和繼續閱讀！

一、LANGER公司簡(jiǎn)介

LANGER EMV-Technik有限公司是一家活躍在電磁兼容領(lǐng)域的，集研究、發(fā)展和生產(chǎn)于一體的中型電工公司。LANGER EMV-Technik公司以其電磁兼容專(zhuān)有知識和測量技術(shù)展現出在組件和集成電路開(kāi)發(fā)中的新視角和經(jīng)濟高效的工作策略。LANGER產(chǎn)品主要有掃描儀/掃描探頭/探測頭/放大器等。Langer EMV-Technik GmbH的EMC專(zhuān)業(yè)知識和測量技術(shù)為開(kāi)發(fā)人員和設計人員打開(kāi)了組件開(kāi)發(fā)和IC開(kāi)發(fā)的新視野和高效的工作策略。EMC的研究結果和廣泛的知識在面向實(shí)踐的EMC實(shí)驗研討會(huì )和內部活動(dòng)中進(jìn)行傳遞。

Langer EMV-Technik在電磁兼容性(EMC)領(lǐng)域進(jìn)行研究，開(kāi)發(fā)，生產(chǎn)和提供建議。EMC實(shí)驗研討會(huì )和EMC研討會(huì )向他們的客戶(hù)傳達了廣泛的知識。Langer EMV-Technik GmbH是一家德國公司，致力于電磁兼容性(EMC)領(lǐng)域的研究，開(kāi)發(fā)，生產(chǎn)和培訓。他們在全球范圍內都需要伴隨開(kāi)發(fā)的用于干擾發(fā)射和抗擾度的EMC測量技術(shù)以及IC測試系統。有關(guān)解決EMC任務(wù)的與開(kāi)發(fā)有關(guān)的個(gè)人建議，使開(kāi)發(fā)人員和設計人員可以更輕松地解決IC，設備和模塊開(kāi)發(fā)中的復雜EMC問(wèn)題。

二、LANGER產(chǎn)品介紹

1、LANGER掃描儀探頭100 KHz至50 MHz LFS-B 3

①LFS-B 3 H場(chǎng)探頭的測量線(xiàn)圈與探頭軸正交布置。當探頭垂直放置時(shí)，測量線(xiàn)圈直接位于印刷電路板的表面上。這樣就可以在電路板表面上難以觸及的位置進(jìn)行測量，例如在開(kāi)關(guān)調節器的大型組件之間進(jìn)行測量。

②LFS-B 3是無(wú)源近場(chǎng)探頭。與磁場(chǎng)探頭LFS-R 3的區別在于線(xiàn)圈旋轉了90°。LFS-B 3檢測從測量對象正交出現的磁場(chǎng)線(xiàn)。未檢測到從側面進(jìn)入探頭的磁場(chǎng)線(xiàn)。近場(chǎng)探頭小巧方便。它具有護套電流阻尼并且具有電屏蔽功能。近場(chǎng)探頭連接到具有50Ω輸入的頻譜分析儀或示波器。H場(chǎng)探頭內部沒(méi)有50端接電阻。

漢達森竇世文15801397840

2、LANGER近場(chǎng)探頭

①單個(gè)近場(chǎng)探頭不足以搜索發(fā)射。而是，硬件開(kāi)發(fā)人員的任務(wù)是選擇和使用相關(guān)的探針。

②對于模塊的EMC優(yōu)化，重要的是開(kāi)發(fā)一種用于近場(chǎng)測量的測量策略，以便使用所選的近場(chǎng)探頭在板上找到發(fā)射源。

③Langer EMV-Technik GmbH為模塊上的近場(chǎng)偵察提供各種H/B近場(chǎng)探頭和E/D近場(chǎng)探頭。每個(gè)探針家族都是根據特定任務(wù)開(kāi)發(fā)的。

④Langer EMV-Technik GmbH的近場(chǎng)探頭特別具有實(shí)用的引腳形狀。它們很小且方便。這使開(kāi)發(fā)人員可以在其電子產(chǎn)品上進(jìn)行靈活而有針對性的測量。

⑤Langer EMV-Technik GmbH的近場(chǎng)探頭通常適用于在100 kHz至20 GHz頻率范圍內測量RF干擾所需的所有預一致性測量。漢達森竇世文15801397840

⑥所有近場(chǎng)探頭均由德國的Langer EMV-Technik GmbH開(kāi)發(fā)，制造和校準。具有校正特性，可以將輸出端的探針電壓轉換為探針頭位置處的磁場(chǎng)。校正特性可作為EXCEL作為xlsx文件下載準備在他們的網(wǎng)站上。您會(huì )從Langer EMV-Technik GmbH獲得特別設計的成套或單獨的近場(chǎng)探頭。

3、LANGER近場(chǎng)探頭100 kHz至50 MHz LF1套裝

①近場(chǎng)探頭套件LF1包含四個(gè)屏蔽無(wú)源近場(chǎng)探頭，用于電子組件上LW，MW和KW范圍內HF磁場(chǎng)的發(fā)展伴隨測量。Set LF1的探頭可以逐步定位模塊上的干擾發(fā)射源。

②首先，使用LF-R 400探頭從更遠的距離確定模塊的干擾發(fā)射。此外，使用更高分辨率的探頭LF-B 3，LF-U 5和LF-U 2.5，可以更精確地定位干擾源。

③這些探頭可以對單個(gè)引腳，較大的組件和結構部件進(jìn)行測量。近場(chǎng)探頭小巧方便。它們具有護套電流阻尼并且被電屏蔽。近場(chǎng)探頭連接到具有50Ω輸入的頻譜分析儀或示波器。

④磁場(chǎng)探頭LF-B 3的測量線(xiàn)圈與探頭軸正交。當探頭垂直放置時(shí)，測量線(xiàn)圈直接位于印刷電路板的表面上。結果，在電路板表面難以到達的位置進(jìn)行了測量，例如在大型建筑物之間。

LANGER,德國LANGER掃描儀,LANGER近場(chǎng)探頭

三、LANGER主要產(chǎn)品和型號

1、LANGER主要產(chǎn)品

①德國LANGER掃描儀

②德國LANGER掃描探頭

③德國LANGER探測頭

④德國LANGER放大器