德國 SFC Koenig 膨脹密封堵頭MB 600-120技術參數介紹

 

      壓脹式密封堵頭是根據壓力膨脹原理工作。鋼球被壓到套筒底部時，鋼球使一段套筒產生徑向膨脹，軸向應力轉變為套筒的徑向膨脹效應。此刻，由套筒外圍環形槽所形成的尖齒被迫壓入周圍的工件材料中，從而形成有效的高壓無泄漏密封。該元件廣泛用于液壓和氣動元件（閥組、油缸或氣缸等）多余流體通道口的封堵。球漲式高壓堵頭可代替：鋼球堵、錐形螺堵、焊接銷堵以及帶密封墊螺堵等各種各樣綜合封堵。深孔的封堵尤能體現其優越性。在鋼、球墨鑄鐵、灰口鑄鐵、銅以及中、高強度鋁合金材料的工件上可以得到有效的高壓無泄漏密封

 

      拉脹式密封堵頭，當安裝工具將套筒定位在孔內，同時向往外拉心軸，套筒受力膨脹，心軸在預定受力點被拉斷。工件密封式通過套筒外圍環形槽所形成的尖齒被迫壓入周圍的工件材料中而完成

膨脹達到需求尺寸以實現咬合密封工藝孔的目的。安裝壓脹式堵頭時要求工藝孔配 

以沉孔。如果您不確定MB600膨脹密封堵頭系列是否適合您的應用程序，請使用我們的產品選擇器來識別適合您的規格的最佳孔瑞格膨脹堵頭。

 

材料:

 

套筒: 不銹鋼 1.4305    鋼球: 不銹鋼 1.4301

 

    MB 600-030

    MB 600-040

    MB 600-050

    MB 600-060

    MB 600-070

    MB 600-080

    MB 600-090

    MB 600-100

    MB 600-120

    MB 600-140

德國LANGER探測頭

   德國LANGER近場探頭LANGER EMV-Technik近場探棒LANGER EMV-Technik放大器LANGER EMV-Technik測量儀LANGER EMV-TechnikLANGER EMV-Technik場頻信號發生器LANGER EMV-Technik脈沖發生器LANGER EMV-Technik探測頭LANGER EMV-Technik電路檢測器。

 

     LANGER EMV-Technik是一家在電磁兼容領域（EMC）進行研究開發生產和培訓的德國企業。LANGER EMV-Technik的電磁干擾發射和抗干擾能力測量技術以及集成電路測試系統為開發全過程提供支持，在全球范圍內廣受歡迎。LANGER EMV-Technik公司以其電磁兼容專有知識和測量技術展現出在組件和集成電路開發中的新視角和經濟高效的工作策略。LANGER EMV-Technik為近場測試設計的探頭，是電磁兼容工程師必備的*基本工具，用于在產品開發期間探測PCB的電磁場情況，近場探頭的優點：

多達19個各種形狀的探頭，可以完成幾乎所有的電磁場測試任務；

多種分辨率的探頭，實現從粗略定位到精細定位

低成本高性能；

頻率范圍覆蓋100kHz－3GHz；

適用于檢查機箱泄漏PCB內部電磁場分布電纜上的電磁場分布等；

使用簡單，攜帶方便。

近場探頭的用途：

主要應用于查找干擾源，判定干擾產生的原因。

可以檢測器件或者是表面的磁場方向及強度。

可以檢測磁場耦合的通道，從而調整連接器或者是顯示器位置

可以檢測PCB附近的磁場環境情況

 

產品范圍：

德國LANGER近場探頭LANGER EMV-Technik近場探棒LANGER EMV-Technik放大器LANGER EMV-Technik測量儀LANGER EMV-TechnikLANGER EMV-Technik場頻信號發生器LANGER EMV-Technik脈沖發生器LANGER EMV-Technik探測頭LANGER EMV-Technik電路檢測器

 

主要型號：

德國LANGER BD06B

德國LANGER BD01B

德國LANGER BD01E

德國LANGER BD11

德國LANGER MFA 01

德國LANGER XF 1

德國LANGER SX

德國LANGER MFA01

德國LANGER MFA02

德國LANGER SX1

德國LANGER XF1

德國LANGER XF

德國LANGER RF1

德國LANGER RF2

德國LANGER RF3

德國LANGER RF4-E

德國LANGER RF-E

德國LANGER LF1

德國LANGER LF

德國LANGER PA203

德國LANGER PA303

德國LANGER RFS

德國LANGER VM251

 

MFA 01微型近場探頭組簡介：

由于集成電路集成度以及時鐘速率的不斷提高，PCB上存在大量雜散場和雜散電流，并以磁場形式相互耦合，導致產生GHz級別的輻射騷擾。*的CISPR 22標準要求測量到6GHz。由于PCB上大量安裝高密度SMD器件，只有使用高分辨率探頭，才能真正找出問題所在。

LANGER EMV-Technik公司*推出的新一代手持式有源近場探頭（MFA 01），頻率范圍覆蓋1MHz到6GHz，分辨率可達200µm，用于PCB布線元器件和IC引腳的細致的磁場測量，能對集成電路引腳或SMD器件進行選擇性的測量，使用MFA-R 0.2-6探頭能診斷高頻磁場問題，使用MFA-K 0.1-12探頭能確定高頻電流。所有微型磁場探頭都有內置的放大器，BT 706偏置器給放大器提供供電。偏置器的阻抗為50?，為微型磁場探頭提供穩定的供電（9V/100mA），BT 706帶有一個12V/70mA的電源。微型磁場探頭以及偏置器采用SMA連接器。

近場探頭組MFA 01包括：

H-場探頭MFA-R 0,2-6

H-場探頭MFA-R 0,2-75

H-場探頭MFA-K 0,1-12

偏置器BT 706

電源適配器

SMA-SMA電纜，長度1米

盒子(340 x 240 x 55) mm

主要技術指標：

	頻率范圍	分辨率	結構	連接器
MFA-R 0,2-75	1MHz～1GHz	300 µm	雙水平環	SMA
MFA-R 0,2-6	100MHz～6GHz	300 µm	垂直環	SMA
MFA-K 0,1-12	100MHz～6GHz	200 µm	垂直環	SMA
偏置器BT 706	500kHz～6GHz			SMA

 

SX系列近場探頭簡介：

SX系列近場探頭，用于測量電子模塊元器件和IC引腳的高頻近場，頻率范圍可達10GHz。探頭內部不含預放，為無源探頭，可使用射頻電纜連接到預放或頻譜分析儀的50歐姆輸入端。